بازخورد درباره این کالا

افزودن به علاقه مندی ها

مقایسه محصول

ویدیو:

اشتراک‌گذاری

با استفاده از روش‌های زیر می‌توانید این صفحه را با دوستان خود به اشتراک بگذارید.

کپی لینک

نمودار قیمت خدمات آنالیز XPS

جزئیات ارسال

خدمات آنالیز XPS

از 0 رای

0دیدگاه

شناسه محصول: 200501001

ویژگی های محصول

منبع اشعه X : 1486.6eV Al Ka
نوع آنالیز : XPS: X-ray Photoelectron Spectroscopy
نوع دستگاه : PHI-5400, Physical Electronics, US
روش‌های استاندارد آنالیز : برای نمونه‌های لایه نازک: (Broad scan;/ Narrow scan for required elements such as Zr. Ti, Y, C, O, etc;/ Ar ion etching (depth 3-5 nm);/ Broad scan again;/ Narrow scan for required elements again;/ Provide 2 sets of data beforeand after etching.) برای نمونه‌های پودر: (Broad scan;/ Narrow scan for required elements such as Zr. Ti, Y, C, O, etc;/ Provide 1 set of data beforeand after etching.)
کاربردهای آنالیز : «آنالیز ترکیبی کیفی»: برای تایید وجود عناصر در نمونه مورد استفاده قرار می‌گیرد. حساسیت 0.1% برای این دستگاه متصور است. «آنالیز ترازهای ظرفیت»: برای بررسی ترازهای ظرفیت در سطح نمونه مورد استفاده قرار می‌گیرد. «آنالیز XPS پروفایل عمق»: با استفاده از گاز آرگون فرآِند کندوپاش روی نمونه انجام شده و پس از هر سیکل زدایش داده برداری XPS انجام می‌شود.

+ اطلاعات بیشتر

شرایط ارسال کالا

ارسال از انبار تهران: 1 الی 2 روز کاری

فروشگاه اینترنتی نانوبازار

موجود در انبار

ارسال توسط فروشگاه اینترنتی نانوبازار

تماس بگیرید

آیا قیمت مناسب تری سراغ دارید؟

مرا اگاه کن

اطلاع از شگفت انگیز شدن محصول

از طریق:

ایمیل به :
پیامک به :

ثبت

محصولات مرتبط

خدمات آنالیز XPS ویژه (فوری)

نقد و بررسی

خدمات آنالیز XPS

***نحوه‌ی سفارش این آنالیز و ارسال نمونه در بخش توضیحات***

یکی از آنالیزهایی که براساس برهمکنش بین پرتوی ایکس و نمونه شکل گرفته است، آنالیز XPS می باشد. آناليزXPS، در حقيقت يك تكنيك كمي ـ طيفي است كه در آن نوع عناصر و تركيب شيميايي عناصر موجود در سطح نمونه قابل استخراج است.

نمایش بیشتر - بستن

شرح خدمت:

یکی از آنالیزهایی که براساس برهمکنش بین پرتوی ایکس و نمونه شکل گرفته است، آنالیز XPS می‌باشد. X-ray Photoelectron Spectroscopy یک آناليز قدرتمند براي ارزيابي سطح نمونه به شمار مي‌رود كه اولين بار در سال 1887 توسط هرتز و بر مبناي اثر فوتوالكتريك بنا شد و از سال 1960 توسط دانشمنداني مانند Siegbahn رشد مضاعف يافت. آناليزXPS، در حقيقت يك تكنيك كمي ـ طيفي است كه در آن نوع عناصر و تركيب شيميايي عناصر موجود در سطح نمونه قابل استخراج است.

مهم‌ترين كاربردهاي اين آزمایش را مي‌توان به شرح ذيل بيان نمود:

1-شناسايي عناصر (همه عناصر به جز هيدروژن و هليوم با اين روش قابل شناسايي مي‌باشند)

2-تعيين تركيب عناصر سطح (معمولاً در فاصله 10-1 نانومتر از سطح) با دانستن انرژي قيدي، شكل پيك و اندازه‌گيري پارامتر اوژه مي‌توان تركيب شيميايي عناصر را شناخت.

3-تعيين عناصر آلوده كننده سطح

4-تعيين يكنواختي تركيب

5-ضخامت يك تك لايه و يا ماده چند لايه‌اي

6-پروفايل عمقي براساس مسير فرودي پرتو ايكس. مي‌توان پروفايل عمقي سطح نمونه را نيز ارزيابي نمود. اين آناليز براي تركيبات غيرآلي، آلياژهاي فلزي، نيمرساناها، پليمرها، شيشه‌ها، سراميك و حتي در صنعت كاغذ، چوب و صنعت بنزين استفاده مي‌شود.

در صورت نیاز به استفاده از این خدمات می‌توانید به شرح ذیل عمل نمایید:

1. پس از ثبت نام در سایت، با اکانت خود در سایت وارد شوید و از طریق بخش آنالیزهای تخصصی، نوع آنالیز خود را انتخاب نمایید.

2. آنالیز انتخابی خود را به سبد خرید خود اضافه نمایید. (با توجه به آنکه قیمت پیش فرض تعیین شده برای یک نمونه می‌باشد، اگر تعداد نمونه شما بیشتر از یک نمونه می‌باشد قبل از افزودن به سبد خرید تعداد را به تعداد مورد نظر ارتقا دهید تا تخفیف مربوطه نیز اتوماتیک اعمال شود.)

3. پس از تکمیل فرایند خرید، واریز وجه و دریافت شماره پیگیری، فرم جزئیات تخصصی و فرم سفارش خدمات آنالیز را تکمیل و فرم‌های امضا شده را به همراه نمونه خود به آدرس ذیل ارسال نمایید. ضمنا خواهشمند است نسخه الکترونیکی این فرم را به صورت فایل Word، به آدرس @nanoBAZARservice تلگرام فرمایید.

«تهران- صندوق پستی 316-13445 به نام خانم فرهنگ آذر (حتما عین این عبارت در آدرس گیرنده روی پاکت درج شود).»

*افرادی که زودتر از برنامه زمان‌بندی ذکر شده در بالا به نتایج خود نیاز دارند می‌توانند آنالیز XPS فوری تعبیه شده در سایت را سفارش دهند.

توضیحات تکمیلی

خدمات آنالیز XPS

مشخصات دیگر

منبع اشعه X	1486.6eV Al Ka
نوع آنالیز	XPS: X-ray Photoelectron Spectroscopy
نوع دستگاه	PHI-5400, Physical Electronics, US
روش‌های استاندارد آنالیز	برای نمونه‌های لایه نازک: (Broad scan;/ Narrow scan for required elements such as Zr. Ti, Y, C, O, etc;/ Ar ion etching (depth 3-5 nm);/ Broad scan again;/ Narrow scan for required elements again;/ Provide 2 sets of data beforeand after etching.) برای نمونه‌های پودر: (Broad scan;/ Narrow scan for required elements such as Zr. Ti, Y, C, O, etc;/ Provide 1 set of data beforeand after etching.)
کاربردهای آنالیز	«آنالیز ترکیبی کیفی»: برای تایید وجود عناصر در نمونه مورد استفاده قرار می‌گیرد. حساسیت 0.1% برای این دستگاه متصور است. «آنالیز ترازهای ظرفیت»: برای بررسی ترازهای ظرفیت در سطح نمونه مورد استفاده قرار می‌گیرد. «آنالیز XPS پروفایل عمق»: با استفاده از گاز آرگون فرآِند کندوپاش روی نمونه انجام شده و پس از هر سیکل زدایش داده برداری XPS انجام می‌شود.

هیچ پرسش و پاسخی ثبت نشده است.

پرسش خود را درباره این کالا بیان کنید

ثبت پرسش